الصفحة الرئيسية » المنتجات » Scanning Electron Microscopy » Scanning Electron Microscopy - SEM » Tescan MIRA for Material Science
TESCAN MIRA’s 4th generation is specialized for High-resolution analytical SEM for routine materials characterization, research and quality control applications at the sub-micron scale. With FEG Schottky electron emission source MIRA combines SEM imaging and live elemental composition analysis in a single window of TESCAN’s Essence™ software. Optimum imaging and analytical conditions are immediately available thanks to the unique apertureless design due to the Wide Field Optics™ design. Ultimate safety of the chamber mounted detectors when the stage and sample are in motion is guaranteed with Essence™ 3D Collision model.
احصل على جميع العروض الترويجية والتحديثات والأخبار وغير ذلك الكثير...
شركة الطيف الماسي للتجهيزات العلمية والمخبرية
جدة
خُبر
مجموعة تعاون © 2024 - جميع الحقوق محفوظة
نحن نستخدم ملفات تعريف الارتباط لتحسين وظائف الموقع ومنحك أفضل تجربة ممكنة