الصفحة الرئيسية » المنتجات » المجهر الإلكتروني الماسح » مجهر المسح الإلكتروني المجهري (Ga and Xe plasma) » Tescan AMBER for Material Science
Amber from TESCAN comes with high precision micro sample preparation and ultra-high resolution field-free SEM imaging and nanoanalysis. The Extended field of view provide easy navigation Multi-site process automation. AMBER FIB-SEM is a multi-modal FIB-SEM tomography and has an easy-to-use modular software user interface
شركة التعاون للتجهيزات المخبرية والعلمية
مجموعة تعاون © 2025 - جميع الحقوق محفوظة
نحن نستخدم ملفات تعريف الارتباط لتحسين وظائف الموقع ومنحك أفضل تجربة ممكنة