الصفحة الرئيسية » المنتجات » Scanning Electron Microscopy » FIB-SEM (Ga and Xe plasma) » Tescan AMBER X for Material Science
Amber X from TESCAN is known for High throughput & large area FIB processing by enabling the fast milling of large cross-sections, up to 1 mm, as well as routine milling and polishing for sample preparation. The Xe plasma beam does minimum damage and doesn’t introduce contamination from implantation. It assures contamination-free microsample preparation for materials like aluminum can be achieved thanks to the inert nature of xenon ions. AMBER X’s BrightBeam™ SEM column enables field-free UHR imaging to expand high resolution characterization to materials that might otherwise be affected by the magnetic field below the final lens
احصل على جميع العروض الترويجية والتحديثات والأخبار وغير ذلك الكثير...
تعاون للتجهيزات المخبرية والعلمية
مجموعة تعاون © 2024 - جميع الحقوق محفوظة
نحن نستخدم ملفات تعريف الارتباط لتحسين وظائف الموقع ومنحك أفضل تجربة ممكنة