الصفحة الرئيسية » المنتجات » Scanning Electron Microscopy » Scanning Electron Microscopy - SEM » Tescan VEGA for Material Science
TESCAN VEGA is equipped with two chamber mounted detectors: a secondary electron detector (SE) for topographical contrast and a backscattered electron detector (BSE) for material contrast and has an optimum imaging and analytical conditions immediately available thanks to TESCAN’s unique apertureless optical design powered by In-flight Beam Tracing™. It is integrated with Essence™ EDS software that enhances magnifications as low as 2× due to the unique Wide Field Optics™ design. VEGA comes with optional vacuum buffer significantly reduces vacuum rotary pump run-time to deliver both ecological and economic benefits.
احصل على جميع العروض الترويجية والتحديثات والأخبار وغير ذلك الكثير...
شركة الطيف الماسي للتجهيزات العلمية والمخبرية
جدة
خُبر
مجموعة تعاون © 2024 - جميع الحقوق محفوظة
نحن نستخدم ملفات تعريف الارتباط لتحسين وظائف الموقع ومنحك أفضل تجربة ممكنة