الصفحة الرئيسية » المنتجات » Scanning Electron Microscopy » Scanning Electron Microscopy - SEM » Tescan CLARA for Material Science
TESCAN CLARA is excellent for imaging of beam-sensitive and non-conductive samples for which the fast setup of electron beam optimal imaging and analytical conditions are guaranteed. It performs UHR Field-free characterization of materials at low beam energies for maximum topography. CLARA has an Intuitive and precise live SEM navigation on the sample at low magnification without the need of optical navigation camera as besides the Intuitive Essence™ software modular platform designed for effortless operation regardless of the user's skill level.
احصل على جميع العروض الترويجية والتحديثات والأخبار وغير ذلك الكثير...
شركة الطيف الماسي للتجهيزات العلمية والمخبرية
جدة
خُبر
مجموعة تعاون © 2024 - جميع الحقوق محفوظة
نحن نستخدم ملفات تعريف الارتباط لتحسين وظائف الموقع ومنحك أفضل تجربة ممكنة