الصفحة الرئيسية » المنتجات » Scanning Electron Microscopy » FIB-SEM (Ga and Xe plasma) » Tescan AMBER for Material Science
Amber from TESCAN comes with high precision micro sample preparation and ultra-high resolution field-free SEM imaging and nanoanalysis. The Extended field of view provide easy navigation Multi-site process automation. AMBER FIB-SEM is a multi-modal FIB-SEM tomography and has an easy-to-use modular software user interface
احصل على جميع العروض الترويجية والتحديثات والأخبار وغير ذلك الكثير...
شركة الطيف الماسي للتجهيزات العلمية والمخبرية
جدة
خُبر
مجموعة تعاون © 2024 - جميع الحقوق محفوظة
نحن نستخدم ملفات تعريف الارتباط لتحسين وظائف الموقع ومنحك أفضل تجربة ممكنة