الصفحة الرئيسية » المنتجات » المجهر الإلكتروني الماسح » مجهر المسح الإلكتروني المجهري (FIB-SEM) » Tescan FIB-SEM لعلوم المواد
Tescan FIB-SEM لعلوم المواد
|
Tescan FIB-SEM لعلوم المواد
تجمع أنظمة Tescan FIB-SEM المخصصة لعلوم المواد بين تقنية الشعاع الأيوني المركّز والمجهر الإلكتروني الماسح، مما يمكّن من تحليل البنية والتركيب الكيميائي للمواد بدقة نانومترية. تمكّن هذه الأنظمة الباحثين من إجراء عمليات قطع وتحليل موجهة بدقة عبر طبقات المواد للكشف عن البنية المجهرية، العيوب، والحدود البينية. بفضل الدمج المتكامل بين الأشعة الأيونية والإلكترونية، يمكن إجراء تحضيرات عينات موجهة، تصوير عالي الدقة، وإعادة بناء ثلاثية الأبعاد لتمثيل حقيقي للبنية الداخلية للمواد.
توفّر أنظمة Tescan FIB-SEM أدوات متقدمة للتحكم في الشعاع، التشغيل الآلي، والتكامل التحليلي لتقديم فهم شامل لشكل المواد وتركيبها وبنيتها البلورية. تُستخدم هذه الأنظمة في تطبيقات متنوعة تشمل المعادن، أشباه الموصلات، السيراميك، المواد المركبة، ومواد الطاقة. وتتيح إمكانياتها إجراء تحاليل مقطعية عالية الدقة، ودراسة البنية الداخلية، والتصوير الحجمي ثلاثي الأبعاد، ما يمكّن من رؤية واضحة لتوزيع الحبيبات، حدود الأطوار، وآليات الفشل المجهري.
القطع الموضعي وتحضير العينات بدقة عالية
تمكّن أنظمة TESCAN FIB-SEM الباحثين من استهداف مناطق محددة داخل المواد المعقدة لإجراء قطع دقيق. باستخدام شعاع أيوني مركز بدقة نانومترية، يمكن إزالة الطبقات السطحية للحصول على مقاطع ناعمة وخالية من التشوهات. تُعد هذه القدرة حاسمة لدراسة المواد متعددة الأطوار، واجهات المواد المركبة، الطلاءات، والأجهزة الدقيقة. كما يمكن تحضير شرائح للتحليل الإلكتروني النافذ، ما يتيح دراسة متعددة المقاييس للعينات. يقلل التحكم بالشعاع الأيوني من الإجهاد الميكانيكي والحراري، محافظاً على سلامة البنية المجهرية مع توفير أسطح مثالية للتصوير عالي الدقة والتحليل الكمي.
التصوير عالي الدقة وتحليل البنية
بفضل البصريات الإلكترونية المتقدمة والكواشف المحسنة، تقدم أنظمة TESCAN FIB-SEM صوراً فائقة الوضوح والتباين لمختلف أنواع المواد. يمكن للمستخدمين ملاحظة الحبيبات والترسيبات والمسام والشوائب والعيوب دون تشويش، مما يتيح تحليلًا مورفولوجيًا دقيقًا. يوفر النظام استقرار شعاع ممتاز حتى للعينات الحساسة أو غير المنتظمة، مع إمكانية إعادة التصوير بشكل متكرر دون فقدان الجودة. هذه القدرة ضرورية لفهم سلوك المواد على المستوى النانوي وربط البنية بالخواص الميكانيكية والكهربائية والحرارية.
التصوير الحجمي وإعادة البناء ثلاثي الأبعاد
تمكّن التكامل بين القطع المتسلسل بالأشعة الأيونية والتصوير الآلي SEM من إعادة بناء النماذج الثلاثية الأبعاد للمواد بدقة عالية. يمكن دراسة شبكات المسام، انتشار الشقوق، وحدود الحبيبات ثلاثية الأبعاد، مما يكشف عن تفاصيل غير ممكن رؤيتها في التصوير ثنائي الأبعاد. توفر البيانات الحجمية القدرة على قياس حجم الأطوار الداخلية ونسبة المسامية والتوصيلية، وهي أدوات حيوية لفهم آليات الفشل وتصميم المواد والتحقق من النماذج الحسابية.
التكامل التحليلي لفهم التركيب الكيميائي والبلوري
يمكن دمج أنظمة TESCAN FIB-SEM مع تقنيات تحليلية مثل EDS وEBSD، مما يسمح بالحصول على معلومات تركيبية وكيميائية وبلورية في الوقت نفسه. يمكن للباحثين رسم خرائط للتوزيع العنصري عبر مميزات البنية المجهرية، وربط تركيب الأطوار باتجاهاتها البلورية، وتقييم التباين الداخلي للمواد. تُعد هذه الميزة أساسية لتطوير السبائك، دراسة السيراميك، وتحليل الأعطال في أشباه الموصلات، وتوفر فهماً شاملاً للمواد.
التصنيع النانوي والهندسة الدقيقة للمواد
تقدّم أنظمة TESCAN FIB-SEM إمكانيات لتعديل المواد على المستوى النانوي، بما في ذلك إنشاء تراكيب مجهرية، تعديل الواجهات، أو ترسيب المواد بشكل دقيق. تدعم هذه الوظائف تطوير الأجهزة الدقيقة، فحص الدوائر الدقيقة، وتصنيع MEMS/NEMS. يمكن إجراء عمليات متعددة الخطوات مثل النقش، التحضير للشرائح، والترسيب بدقة وموثوقية عالية، ما يوسع استخدام النظام من مجرد التصوير والتحليل إلى الهندسة الدقيقة.
التشغيل الآلي وتحسين سير العمل
تحتوي أنظمة TESCAN على أدوات آلية متقدمة لتسهيل التجارب طويلة الأمد والمتكررة. يتيح التشغيل الآلي للقطع، التصوير، وإعادة البناء ثلاثية الأبعاد تقليل الأخطاء البشرية وزيادة الإنتاجية. توفر الخوارزميات الذكية للمسح المتسلسل نتائج دقيقة ومتسقة عبر عينات متعددة، مما يسمح للباحثين بالتركيز على تفسير البيانات والتحليل الكمي مع الحفاظ على جودة التصوير.
التكامل مع تقنيات التصوير متعددة الأنماط
تمكّن مرونة أنظمة TESCAN FIB-SEM من دمج البيانات من المجهر الضوئي والإلكتروني والشعاع الأيوني ضمن بيئة واحدة. يسمح هذا النهج بتحديد المناطق المهمة بدقة، وإجراء تحليلات متعددة المقاييس، وتحقيق فهم شامل للتركيب البنيوي للمواد. يمكن مطابقة السمات الميكروية الملاحظة عند دقة منخفضة مع البيانات عالية الدقة لتعزيز الفهم البنيوي.
التطبيقات الشاملة في مجالات علوم المواد
تُستخدم أنظمة TESCAN FIB-SEM على نطاق واسع في دراسة المعادن والسيراميك والبوليمرات والمواد المركبة وأشباه الموصلات. تشمل التطبيقات تحليل الفشل، دراسة التشقق، التآكل، characterization الطلاءات، والهياكل المصنعة تقنيًا. بفضل دقتها ومرونتها العالية، تعتبر هذه الأنظمة أدوات أساسية لكل من البحث الأكاديمي وضمان الجودة الصناعي.
تعرف أكثر على منتجات شركة Tescan هنا
