الصفحة الرئيسية » المنتجات » المجهر الإلكتروني الماسح » المجهر الإلكتروني الماسح رباعي الأبعاد (4D STEM) » المجهر الإلكتروني الماسح رباعي الأبعاد من Tescan
أنظمة المجهر الإلكتروني الناقل الماسح (STEM) من Tescan للأبحاث المتقدمة على المستوى الذري
توفر منصات Tescan STEM قدرات تصوير على المستوى الذري تمكن من ملاحظة الشبكات البلورية، الاتجاهات البلورية، الواجهات، والعيوب الدقيقة بدقة دون النانومتر. توفر البصريات الإلكترونية المتقدمة وأجهزة الكشف المدمجة تباينًا ممتازًا في الصور، مما يتيح دراسة المعادن، السيراميك، أشباه الموصلات، والمواد المركبة بتفصيل دقيق. يمكن للباحثين تحليل حدود الحبيبات، الانحرافات، والتحولات الطورية، مع التقاط التغيرات الدقيقة في البنية التي تؤثر على أداء المواد، مما يدعم الأبحاث الأساسية وتطوير المواد المتقدمة.
بالإضافة إلى التصوير، تتضمن أنظمة STEM أجهزة كشف تحليلية متقدمة تتيح رسم الخرائط العنصرية والتحليل الطيفي للطاقة وتقنيات أخرى للتحليل الكيميائي. يتيح هذا النهج المتكامل إجراء تحليلات دقيقة للمواد النانوية، وتقديم معلومات كمية حول التركيب الكيميائي، التباين الكيميائي، والتوزيع العنصري المحلي. يمكن للباحثين ربط البيانات البنيوية بالبيانات الكيميائية لفهم شامل للمواد المعقدة، تقييم أدائها تحت ظروف مختلفة، وتحسين تصميم المواد للأبحاث أو التطبيقات الصناعية. كما تدعم هذه الأنظمة سير العمل عالي الإنتاجية لتحليل عينات متعددة بكفاءة عالية وبأقل تدخل من المشغل.
تحضير العينات والأتمتة وتحسين سير العمل
توفر أنظمة STEM سير عمل متكامل لتحضير العينات، بما في ذلك إعداد الشرائح الرقيقة للتحليل TEM، والتحكم المؤتمت في المرحلة، ومحاذاة الشعاع بدقة. تقلل هذه القدرات من التباين بين المستخدمين وتزيد من قابلية تكرار النتائج، مما يضمن تصويرًا عالي الجودة وتحليلًا موثوقًا عبر التجارب المتعددة. كما تسهّل العمليات المؤتمتة الإجراءات المعقدة، موفرة الوقت وتحسين الكفاءة في المختبرات عالية الإنتاجية والدقيقة.
تحليل البنى النانوية والمورفولوجيا
تمكّن أنظمة STEM المتقدمة من تصور وتحليل البنى النانوية مثل الجسيمات النانوية، نقاط الكم، الأسلاك النانوية، والمواد المركبة متعددة الطبقات. يوفر التصوير عالي الدقة مع أجهزة الكشف التحليلية قياسًا دقيقًا للحجم والشكل والمورفولوجيا والتركيب الكيميائي، مما يدعم تصميم مواد نانوية جديدة ودراسة خصائصها الوظيفية.
تحليل العيوب والواجهات
تتيح أنظمة STEM تحليل العيوب والواجهات والهياكل متعددة المراحل بدقة عالية. يمكن للباحثين تحديد الفراغات، الانحرافات، حدود الحبيبات، والتحولات الطورية، وهي معلومات حاسمة لفهم الخصائص الميكانيكية والإلكترونية والكيميائية للمواد. يدعم هذا التحليل دراسة أشباه الموصلات، المواد المركبة، وتطبيقات الهندسة النانوية.
التحليل البلوري ورسم الخرائط الطورية
تمكّن STEM من دراسة البنية البلورية بدقة عالية، بما في ذلك تحديد معلمات الشبكة، اتجاه البلورات، وتوزيع الطور في المواد غير المتجانسة. تدعم الأنظمة رسم الخرائط الطورية المتقدم ودراسة تطور البنية المجهرية، الإجهاد، والتحولات الطورية في المعادن والسيراميك والمواد البلورية الأخرى.
الرسم الطيفي ورسم الخرائط العنصرية
تتيح الوحدات التحليلية المدمجة تحليل الطيف الإلكتروني، الطاقة الضائعة للإلكترون، وتقنيات رسم الخرائط العنصرية. يتيح الجمع بين التصوير البنيوي والتحليل الكيميائي الحصول على بيانات كمية دقيقة تربط التركيب الكيميائي بالخصائص البنيوية والبلورية، وهو أمر أساسي لأبحاث المواد، تكنولوجيا النانو، وتحليل الأعطال.
الدراسات المترابطة والمجهر متعدد الوسائط
يمكن دمج أنظمة STEM مع تقنيات تصوير أخرى لإجراء الدراسات المترابطة، مما يتيح الجمع بين المعلومات الهيكلية والكيميائية والوظيفية. يوفر التحليل متعدد الوسائط رؤية شاملة للعينات المعقدة، من المواد النانوية إلى العينات البيولوجية، داعمًا الأبحاث متعددة التخصصات وسير العمل التحليلي المتقدم.
التحليل عالي الإنتاجية وقابلية تكرار البيانات
تمكّن الأتمتة والبرمجيات المتقدمة إجراء التصوير والتحليل عالي الإنتاجية، مع معالجة عينات متعددة بكفاءة وأقل تدخل بشري. تعزز سير العمل القابل للتكرار موثوقية البيانات، وتسرّع التجارب، وتزيد الإنتاجية البحثية في المختبرات الأكاديمية والصناعية.
التطبيقات البحثية والصناعية
تعتبر منصات TESCAN STEM أدوات أساسية لكل من الأبحاث الأكاديمية والتطبيقات الصناعية، بما في ذلك تكنولوجيا النانو، هندسة المواد، تطوير أشباه الموصلات، وتحليل المواد المركبة المتقدمة. توفر هذه الأنظمة مزيجًا من التصوير على المستوى الذري، التحليل الكيميائي المدمج، والأتمتة المتقدمة، مما يوفر المرونة والدقة والموثوقية للأبحاث العلمية الحديثة.
تعرف أكثر على منتجات شركة Tescan هنا