التحليل الخاص بالعناصر

توفر مطيافية الانبعاث الذري للبلازما المقترنة حثياً (ICP-AES) من شيمادزو، والمعروفة أيضاً باسم ICP-OES، منصة تقنية متطورة للتحليل العنصري المتعدد السريع والمتزامن عبر نطاق تركيز واسع. تقنياً، تستخدم هذه الأنظمة مصدر بلازما أرغون عالي الحرارة لإثارة الذرات والأيونات، والتي تصدر لاحقاً إشعاعاً كهرومغناطيسياً مميزاً عند عودتها إلى مستويات طاقة أقل. 

تمثل أنظمة مطيافية الكتلة بالبلازما المقترنة حثياً (ICP-MS) من شيمادزو قمة التحليل العنصري، حيث توفر حساسية ودقة استثنائية للكشف عن العناصر النزرة والدقيقة جداً. تقنياً، تجمع هذه الأجهزة بين مصدر بلازما أرغون عالي الحرارة ومطياف كتلة متطور لتحديد وقياس العناصر بناءً على نسبة الكتلة إلى الشحنة. تم تصميم هذه المنصات باستخدام "الذكاء التحليلي" المتقدم لتبسيط مسارات العمل المعقدة من خلال تطوير الطرق المؤتمتة وبصريات الأيونات عالية الكفاءة. 

تم هندسة منصة برمجيات ICP-MS من شيمادزو تقنياً لتبسيط سير عمل التحليل العنصري بالكامل، بدءاً من الإعداد الأولي للجهاز وصولاً إلى التقارير النهائية للبيانات. تستفيد هذه البيئة المتطورة من "الذكاء التحليلي" لأتمتة المهام كثيفة الجهد مثل ضبط البلازما ومعايرة الكتلة. تكمن الوظيفة الأساسية للبرنامج في قدرته على إدارة تسلسلات الحصول على العناصر المتعددة المعقدة مع توفير مراقبة تشخيصية في الوقت الفعلي للمعلمات الحرجة مثل مستويات الفراغ وتدفقات الغاز. ومن خلال دمج خوارزميات تصحيح التداخل المتقدمة ومعالجات تطوير الطرق البديهية، تضمن المنصة قدرة المختبرا...

توفر منصات مطيافية الامتصاص الذري (AAS) من شيمادزو حلاً قوياً من الناحية التقنية للتحديد الدقيق للعناصر المعدنية في مجموعة متنوعة من المصفوفات. من خلال استخدام التذرية باللهب لمستويات أجزاء في المليون (ppm) وتذرية فرن الجرافيت لحساسية أجزاء في المليار (ppb)، تلبي هذه الأنظمة مجموعة متنوعة من المتطلبات التحليلية في المختبرات البيئية وسلامة الأغذية والصناعية.

تقنياً، تتميز الأجهزة بأنظمة بصرية متقدمة مع أحادي لون (monochromator) عالي الدقة وطرق تصحيح الخلفي...

تمثل مطيافية الأشعة السينية الوميضية المشتتة للطول الموجي (WDXRF) حلاً تقنياً متطوراً لأكثر مهام التحليل العنصري تطلباً، حيث توفر دقة طيفية وحساسية فائقة مقارنة بالأنظمة المشتتة للطاقة. تقنياً، يعمل الجهاز باستخدام أنبوب أشعة سينية عالي الطاقة لإثارة العينة، يليه فصل فيزيائي للأشعة السينية الوميضية باستخدام بلورات تحليل متخصصة بناءً على قانون براغ. يسمح هذا التشتت الميكانيكي بالعزل الدقيق لأطوال موجية محددة، مما يقضي بفعالية على التداخلات الطيفية ويجعل حدود الكشف منخفضة للغاية للعناصر التي تتراوح من العناصر الخفيفة مثل البريليوم (Be) إلى المعادن الثقيلة...

توفر مطيافية الأشعة السينية الوميضية المشتتة للطاقة (EDXRF) طريقة تقنية غير متلفة للتحديد النوعي والكمي للعناصر التي تتراوح من الكربون (C) أو الصوديوم (Na) إلى اليورانيوم (U). تقنياً، تتضمن العملية إثارة عينة بأشعة سينية أولية، مما يؤدي إلى انبعاث أشعة سينية وميضية ثانوية مميزة للعناصر الموجودة. تم هندسة أنظمة EDX من شيمادزو بكواشف انجراف السيليكون (SDD) عالية الأداء التي توفر معدلات عد ودقة طاقة استثنائية. يسمح ذلك بالتحليل السريع للمواد الصلبة والسائلة والمساحيق دون الحاجة إلى تحضير عينات معقد، مما يجعلها حلاً تقنياً مثالياً للفحص البيئي، ومراقبة الجود...

تم هندسة أنظمة مطيافية الانبعاث الضوئي (OES) من شيمادزو، وتحديداً القائمة على الشرارة، تقنياً للتحديد العنصري السريع والدقيق لعينات المعادن الصلبة. تقنياً، تتضمن العملية توليد شرارة عالية الطاقة بين قطب كهربائي وعينة معدنية تحت جو من الأرغون، مما يؤدي إلى تبخير وإثارة الذرات.

وعند عودة هذه الذرات المثارة إلى حالتها المستقرة، فإنها تنبعث منها أضواء مميزة عند أطوال موجية محددة. يلتقط المقعد البصري عالي الدقة للنظام هذا الضوء، مما يسمح بالقياس الكمي المتزامن...