تحليل الأشعة السينية بالتشتت الطاقي (EDXRF)

أداء كاشف انجراف السيليكون (SDD) عالي الدقة

قلب نظام EDXRF هو كاشف انجراف السيليكون (SDD) عالي الأداء. تقنياً، تم تصميم SDD للتعامل مع معدلات عد عالية جداً مع الحفاظ على دقة طاقة فائقة. يسمح هذا للنظام بالتمييز بين قمم الوميض المتقاربة، وهو أمر ضروري للتحليل النوعي الدقيق في العينات التي تحتوي على خلائط معقدة من المعادن الثقيلة. كما تتيح الحساسية العالية للكاشف أوقات قياس أقصر، مما يزيد بشكل كبير من إنتاجية المختبر.

فلاتر الأشعة السينية الأولية لتعزيز الإشارة

لتحسين حدود الكشف لعناصر معينة، يستخدم النظام مبدل فلاتر أولية مؤتمت. تقنياً، توضع هذه الفلاتر بين أنبوب الأشعة السينية والعينة لقمع تشتت الخلفية أو تعزيز إثارة عناصر مستهدفة محددة. على سبيل المثال، يمكن لفلتر معين تحسين الحساسية للكميات الزهيدة من الكادميوم أو الرصاص من خلال تقليل التداخل الناتج عن الخطوط المميزة لأنبوب الأشعة السينية.

خيارات جو الفراغ والهيليوم

لتحليل العناصر الخفيفة مثل الصوديوم والمغنيسيوم والألومنيوم، يوفر النظام خيارات جو الفراغ أو الهيليوم. تقنياً، يمتص الهواء الجوي الأشعة السينية الوميضية منخفضة الطاقة، مما يجعل اكتشافها صعباً. من خلال تفريغ غرفة العينات أو تطهيرها بالهيليوم، يتم إخلاء مسار الأشعة السينية من الغازات الماصة، مما يعزز بشكل كبير الحساسية والدقة لقياس العناصر الخفيفة في العينات الصلبة والسائلة.

غرفة عينات كبيرة وبرج مؤتمت

يتميز التصميم التقني بغرفة عينات واسعة قادرة على استيعاب أشياء كبيرة أو غير منتظمة الشكل دون الحاجة إلى القطع أو أخذ عينات متلفة. بالنسبة لمتطلبات الإنتاجية العالية، يمكن دمج برج مؤتمت أو مبدل عينات. يسمح ذلك بالتحليل المتسلسل لعينات متعددة دون إشراف، حيث يدير البرنامج معلمات التموضع والقياس لكل عينة بشكل مستقل، مما يضمن نتائج متسقة.

التحليل غير المتلف للأغشية الرقيقة والطلاء

بالإضافة إلى التركيز العنصري، فإن EDXRF قادر تقنياً على قياسات سماكة الطلاء غير المتلفة. من خلال تحليل شدة الأشعة السينية من كل من الطلاء والركيزة، يحسب البرنامج سماكة وتكوين الأغشية الرقيقة. يعد هذا تطبيقاً تقنياً حاسماً في صناعات الإلكترونيات والسيارات، حيث يجب التحقق من سلامة الطلاءات متعددة الطبقات دون إتلاف المكون النهائي.

وظائف فحص RoHS/ELV المؤتمتة

يتضمن البرنامج وحدات متخصصة لفحص RoHS/ELV، مصممة تقنياً لأتمتة اختبارات الامتثال. يمكن للمستخدمين تعيين قيم حدية للمواد المنظمة، ويقدم النظام حكماً فورياً بـ "ناجح" أو "راسب" أو "منطقة رمادية" بعد التحليل. يتضمن هذا المنطق المؤتمت تصحيحات المعايير الداخلية ومطابقة المصفوفة، مما يضمن موثوقية النتائج عند اختبار مكونات بلاستيكية أو معدنية متنوعة.

طريقة المعلمات الأساسية (FP) المستقلة عن الخلفية

للتحليل الكمي دون الحاجة إلى عينات قياسية عديدة، يستخدم النظام طريقة المعلمات الأساسية (FP). تقنياً، تستخدم هذه الخوارزمية معادلات فيزيائية نظرية لحساب التركيزات بناءً على شدة الأشعة السينية المقاسة. وهي تأخذ في الاعتبار تأثيرات المصفوفة مثل الامتصاص والإثارة الثانوية بين العناصر، مما يوفر نتائج كمية دقيقة للعينات المجهولة.

كاميرا CCD مدمجة للتحليل النقطي الدقيق

لضمان القياس الدقيق للمناطق الصغيرة أو ميزات محددة في العينة، تم تجهيز الأنظمة بكاميرا CCD عالية الدقة. تقنياً، يسمح ذلك للمشغل بتحديد نقطة التحليل مرئياً ومحاذاة شعاع الأشعة السينية باستخدام الموجهات المؤتمتة (collimators). هذه القدرة ضرورية لتحليل الأجزاء الإلكترونية الصغيرة، أو الشوائب في المعادن، مما يوفر ارتباطاً واضحاً بين المورفولوجيا المرئية والتكوين العنصري.

اضغط هنا للتعرف أكثر على منتجات شركة Shimadzu